Marvin TS9xx Halbleitertestsystem
PXI Halbleitertestsystem für Digital- und Mixed Signal Anwendungen
Anwendungsbeschreibung
Das Testsystem dient dem Test von digitalen und Mixed-Signal-Halbleitern im Rahmen der Design-Verifikation, der spezialisierten Fertigung und der Qualitätssicherung. Das System erlaubt neben der statischen und funktionalen Prüfung auch den parametrischen Test von DC- und AC-Eigenschaften der Halbleiter.
Das System stellt für DC-Parametermessungen eine PMU (Parametric Measurement Unit) pro Pin zur Verfügung. Für den parametrischen Test der AC-Eigenschaften verfügt das System über ein digitales Subsystem mit flexiblem dynamischem Timing und einer „Timing pro Pin“ Architektur mit einer Auflösung von <1ns.
Durch die Realisierung des Systems als PXI basierte Lösung ist eine Erweiterung um kundenspezifische Instrumentierung zur Verifikation, z.B. von modulierten RF-Signalen, einfach möglich. Die offene Systemsoftware erlaubt eine Einbindung entsprechender Treiber und Messfunktionen.
Besonderheiten
Die Lösung wird bevorzugt über unsere Tochtergesellschaft bsw TestSystems & Consulting AG vertrieben.
| Website: | www.bsw-ag.com |
| Ansprechpartner: | Norbert Bauer |
| Tel.: | +49 (0)89 9605740 |
| Mail: | norbert.bauer@bsw-ag.com |
| LX-TSCOE4 Operator Interface ... | |
| LX-TSCOE Legacy OP | |
| LX-Prüfdatenbank ... | |
| LX-Magpie Auswertesoftware ... | |
| LX-Woodcreeper Datenbank API ... | |
| NI TestStand ... | |
| Keysight TestExec SL ... | |
| Associated Research Autoware | |
| LX-Testschritt-Bibliotheken | |
| ✓ | C# ... |
| ✓ | C++ ... |
| NI LabVIEW ... | |
| Keysight VEE ... | |
| ✓ | Marvin ICEasy |
| ✓ | Marvin ATEasy |