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Elektronische Sicherung | 200 V, 10 A

Elektronische Sicherung | 200 V, 10 A
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  • AL-EFUSE2-200-10
Agil Elektonik AL-EFUSE2-200-10 Elektronische Sicherung Elektronische Sicherung für On-Wafer... mehr
Produktinformationen "Elektronische Sicherung | 200 V, 10 A"

Agil Elektonik AL-EFUSE2-200-10
Elektronische Sicherung
Elektronische Sicherung für On-Wafer Test, Schutz für Waferprobes, Bias-Tees, Stecker und die Transistoren

Eigenschaften von der elektronischen Sicherung EFUSE2-200-10

  • elektronische Sicherung / electronic fuse
  • 200V
  • 10A
  • 115V oder 230V
  • Abschaltzeit < 300 ns
  • Lieferung für den Bereich 0..10 A optional
  • Spannung bis zu 200 VDC (auch 100 VDC lieferbar)
  • Verschiedene Anschlüsse möglich
  • Geringe Übertragungsverluste (<50mΩ)
  • RS232-Schnittstelle für Betriebsinformationen
  • Alle wichtigen Bedienelemente auf der Frontplatte
  • Anzeige: W, mW, µW, dBm, db

Die elektronischen Sicherung EFUSE2-200-10

Um Transistoren während der Entwicklung zu charakterisieren, sind On-Wafer-Messungen (von Sub-Zellen) ein unverzichtbares Werkzeug. Typische Gleichspannungen, die dem Prüfling zugeführt werden müssen, überschreiten sicher Spannungen von 50 V und Ströme bis zu 10 A. Es werden große Stromversorgungen benötigt, mit einer hohen gespeicherten Energiemenge. Bei der Annäherung an die Grenzen des Transistors werden häufig die eingestellten Stromgrenzen nicht richtig gehalten und die Transistoren bei kritischen Messungen zerstört. Auch die Geräte, wie z.B. Tastspitzen, können in Mitleidenschaft gezogen werden. Mit der eFuse2 können Sie Waferprobes, Bias-Tees, Stecker und regelmäßig auch die Transistoren selbst sehr einfach schützen.

Die bsw TestSystems & Consulting GmbH wurde im Jahre 1996 in München gegründet. Die bsw bietet bis heute Messtechniklösungen für die Halbleiter-, Elektronik und Telekomindustrie sowie für Hochschul- und Forschungseinrichtungen an. Die Schwerpunkte liegen in folgenden Bereichen:

  • HF-Messtechnik
  • Signal Integrity Anwendungen
  • Tunermesstechnik
  • HF-Kontaktierlösungen
  • DC/CV Parameter Extraktion
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