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PXI Karte | 100 MHz, 256 MB

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  • MV-GX5295
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Marvin Test Solutions MV-GX5295 PXI Karte 32 I/O-Kanäle, 4 Steuer-/Timing-Kanäle, 100 MHz,... mehr
Produktinformationen "PXI Karte | 100 MHz, 256 MB"

Marvin Test Solutions MV-GX5295
PXI Karte
32 I/O-Kanäle, 4 Steuer-/Timing-Kanäle, 100 MHz, Stimulus / Response & Echtzeit-Vergleichsmodi

Eigenschaften von der Karte GX5295

  • 32 Eingangs-/Ausgangskanäle 
  • dynamisch pro Kanal konfigurierbar 
  • 4 Steuer- / Zeitkanäle mit programmierbaren Pegeln 
  • 256 MB on-board Vektorspeicher 
  • Hochleistungs-Pin-Elektronik mit Pro-Kanal-Programmierbarkeit 
  • Pro Kanal parametrische Messeinheit (PMU) 
  • Drive-/Sense-Spannungsbereich von -2 V bis + 7 V 
  • 100 MHz Vektortakt 
  • Stimulus / Response & Echtzeit-Vergleichsmodi 
  • Arbeitet als eigenständige Karte oder mit bis zu fünfzehn zusätzlichen synchronen Slave-Karten

Die Karte GX5295

Der Marvin Test GX5295 bietet hervorragende digitale Testmöglichkeiten und eine hohe Kanaldichte in einem kompakten 3HE-PXI-Formfaktor. Der GX5295 bietet sowohl leistungsfähige digitale als auch analoge Testmöglichkeiten und stellt eine kostengünstige Tester-pro-Pin-Architektur zur Verfügung - damit ist diese Karte die ideale Wahl für Mixed-Signal-Komponententestanwendungen mit hohem Durchsatz. Jeder digitale Kanal kann individuell für einen Drive Hi, Drive Lo, Sense Hi, Sense Lo und Lastwert (mit Kommutierungsspannungspegel) programmiert werden. Zusätzlich bietet jeder Kanal eine parametrische Messeinheit (PMU), die dem Anwender die Möglichkeit gibt, parallele DC-Messungen am DUT (Device under Test) durchzuführen. Das GX5295 unterstützt einen tiefen Pattern-Speicher, indem es 256 MB On-Board-Vektorspeicher mit dynamischer Richtungssteuerung pro Pin und mit Testraten bis zu 100 MHz bietet. Die Karte unterstützt die Betriebsarten Stimulus/Response und Echtzeit-Vergleich, wodurch der Anwender den Testdurchsatz für Go/No-Go-Tests von Bauteilen und UUTs, die Testmuster mit tiefem Speicher benötigen, maximieren kann. Das Single-Board-Design unterstützt sowohl die Master- als auch die Slave-Funktionalität ohne den Einsatz von Zusatzmodulen.

Die Pin-Elektronik-Ressourcen des GX5295 sind pro Kanal unabhängig und beinhalten eine vollwertige PMU für die DC-Charakterisierung von Prüflingen. Die PMU kann im Modus Spannung forcen / Strom messen oder Strom forcen / Spannung messen arbeiten. Darüber hinaus können Treiber und Empfänger so konfiguriert werden, dass sie differentielle Eingangs- und Ausgangssignale vom/zum UUT unterstützen. Für Speicherzugriffe wird ein Windowing-Verfahren eingesetzt, das den benötigten PCI-Speicherplatz pro Karte auf nur 16 MB begrenzt und so die Ressourcen des Testsystems schont. Ein Direktmodus, für den kontinuierlichen Datentransfer zwischen dem Testsystem-Controller und den I/O-Pins des Marvin Test GX5295 wird ebenfalls unterstützt. Das GX5295 bietet 256 MB Vektorspeicher, davon 64 MB pro Kanal. Die programmierbare I/O-Breite ermöglicht den Handel von Vektorbreite für Vektortiefe. Unter Softwarekontrolle kann der Vektorspeicher des GX5295 so konfiguriert werden, dass er Kanalbreiten von 32, 16, 8, 4, 2 und 1 mit entsprechenden Vektortiefen von 64 Mb, 128 Mb, 256 Mb, 512 Mb, 1024 Mb und 2048 Mb unterstützt.

Der Marvin Test GX5295 bietet programmierbare LVTTL-Ausgangstakte und Strobes und unterstützt externe Takte und Strobes. Eine programmierbare PLL (Phase Locked Loop) bietet konfigurierbare Taktfrequenzen und Verzögerungen. Darüber hinaus stehen 4 zusätzliche Pin-Elektronik-Ressourcen für die Verwendung als Timing- und/oder Steuerressourcen zur Verfügung - mit programmierbaren Treiber- und Sense-Pegeln von -2 bis +7 V. Der Sequenzer des GX5295s kann an einer definierten Adresse anhalten oder pausieren oder eine Schleife über den gesamten Speicher fahren sowie eine Schleife über einen definierten Adressbereich oder über einen definierten Speicherblock fahren. Außerdem werden zwei Modi des digitalen Tests unterstützt - ein Stimulus / Response- und ein Echtzeit-Vergleichsmodus. Der Stimulus / Response-Modus wird zum Ansteuern und Erfassen von Daten verwendet. Alternativ kann für digitale Tests, die lange Testvektoren erfordern, der Echtzeit-Vergleichsmodus verwendet werden, um die Gesamttestzeit erheblich zu verkürzen, indem in Echtzeit die erwarteten Testergebnisse verglichen und nur die fehlgeschlagenen Vektoren und die daraus resultierenden Testergebnisse (bestanden oder fehlgeschlagen) aufgezeichnet werden.

Lieferumfang der Karte GX5295

  • PXI Karte
  • Benutzerhandbuch
  • Kalibrierungszertifikat

Marvin Test Solutions ist ein amerikanischer Hersteller für PXI Instrumente und Software für Funktionstestsysteme und Halbleitertest.

  • Eine besondere Stärke von Marvin Test Solutions sind schnelle digitale Pattern-I/O Karten, FPGA- und SMU Karten im 3U und 6U PXI Formfaktor.
  • Neben Einzelkomponenten liefert Marvin auch vorkonfigurierte Funktionstestsysteme und Halbleitertestsysteme.
  • Mit der ATEasy Entwicklungsumgebung bietet Marvin Kunden, die eine eigene Testsoftware-Architektur realisieren wollen, einen leistungsfähigen Baukasten inkl. integrierter Sequenzerfunktionen.

LXinstruments vertreibt Produkte von Marvin Test Solutions in Deutschland, Österreich und der Schweiz.

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