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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

Wir freuen uns auf Ihren Anruf.

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Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

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Messsysteme | PG116:G180XI basiert Messsysteme | PG116:G180XI basiert
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VTI-PXIe-Produkte

große Bandbreite an PXI-Produkten, Kombination von PXI basierter Messtechnik mit LXI basierten Schaltsystemen
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Modulare Funktionstest-Plattform | OTP2 Modulare Funktionstest-Plattform | OTP2
LXinstruments GmbH
LX-OTP2

kostengünstige und schnelle Realisierung von Testsystemen, Modul basierend, offene Systemschnittstellen
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Monitorhalterung für den 19“ Rack Einbau Monitorhalterung für den 19“ Rack Einbau
LXinstruments GmbH
LX-ZZ-0017-01

Monitorhalterung für den 19“ Rack Einbau
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MXI-Express Interface Kit | BUS-Erweiterung MXI-Express Interface Kit | BUS-Erweiterung
Marvin-Test-Solutions
MV-MXIE1-EXPRESS

192 oder 798 MB/s Datenrate, 3 Meter, robuste Konnektivität, inklusive 2-Port-PCIe-Karte
Preis auf Anfrage
MXI-Express Kit | BUS-Erweiterungsmodul MXI-Express Kit | BUS-Erweiterungsmodul
Marvin-Test-Solutions
MV-MXI-4E-C

Kupferverkabelung, 100 MB/s Datenrate, PXI zu PCI, 3m Kabel ECCN EAR99
Preis auf Anfrage
PCI Karte | 1 Kanal AWG, 125 MS/s PCI Karte | 1 Kanal AWG, 125 MS/s
Marvin-Test-Solutions
MV-GC1300

1 Kanal AWG, 125 MS/s, Wellenform-Sequenzer, 2M Speicher, 14 Bit Auflösung
Preis auf Anfrage
PCI Karte | 1.3 GHz, Zeitintervallzähler PCI Karte | 1.3 GHz, Zeitintervallzähler
Marvin-Test-Solutions
MV-GC2220

1.3 GHz, Schneller Messmodus, Selbstkalibrationsfunktion, wählbare Eingangsimpedanz, 100ps Auflösung
Preis auf Anfrage
PCI Karte | 2 D/A Kanäle, 6 Digital I/O Kanäle PCI Karte | 2 D/A Kanäle, 6 Digital I/O Kanäle
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3216

16 Bit Multifunktions-Karte, 16 Diff-A/D-Kanäle (1 MS/s), 2 D/A-Kanäle, 6 digitale I/O-Kanäle
Preis auf Anfrage
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2 GHz, Schneller Messmodus, Selbstkalibrationsfunktion, wählbare Eingangsimpedanz, 100ps Auflösung
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Marvin-Test-Solutions
MV-GC2210

225 MHz, Schneller Messmodus, Selbstkalibrationsfunktion, wählbare Eingangsimpedanz
Preis auf Anfrage
PCI Karte | 4 D/A Kanäle, 16 Digital I/O Kanäle PCI Karte | 4 D/A Kanäle, 16 Digital I/O Kanäle
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3232

16 Bit Multifunktions-Karte, 16 Diff / 32 Single Ended A/D-Kanäle (300 KS/s), 4 D/A-Kanäle, 16 I/O-Kanäle
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16 Bit Multifunktions-Karte, 16 Diff / 32 Single Ended A/D-Kanäle, 4 D/A-Kanäle, 16 I/O-Kanäle, 60V Eingänge
Preis auf Anfrage
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Testsysteme werden in unterschiedlichste Anwendungen und Branchen eingesetzt. Testsysteme prüfen, ob elektronische Baugruppen, Geräte etc. die definierten Funktionen und Parameter auch unter Belastung einhalten.

Welche Arten von Funktionstests gibt es?

  • Run-In:
    Unter kontinuierlichem Temperaturwechsel wird getestet, ob Baugruppen in ihrem definierten Temperaturbereich leistungsfähig bleiben und nicht ausfallen.
  • Burn-In:
    Hier sollen Material- und Bauteilschwächen erkannt werden, indem man beim Test die Baugruppenalterung simuliert.
  • HASS (Highly accelerated stress screen):
    Bevor die Endmontage der Baugruppen erfolgt, werden sie nochmals einem mechanischen Belastungstest bei stabiler Temperatur unterzogen.
  • HALT (Highly accelerated life test):
    Die Prüflinge werden im Laufe des Produktionsprozesses extremen Temperaturschwankungen und mechanischen Belastungen ausgesetzt.

Modulare Funktionstestsysteme können Sie direkt in Abstimmung mit unseren KollegInnen in einem Baukastensystem konfigurieren. Durch die standardisierten Bestandteile wird ein attraktives Preis-/Leistungsverhältnis realisiert.

 Auch individualisierte Lösungen sind möglich, sodass auch schon vorhandene Testanlagen beliebig erweitert werden können.

Die Software - ein zentrales Element

Zentrales Element von Funktionstestsystemen ist die angewendete Software. LXinstruments verfügt über umfangreiche und leistungsfähige Software-Module, die optimal aufeinander abgestimmt und für alle Anforderungen geeignet sind.

  1. Test Sequencer Common Operator Environment (TSCOE)
    TSCOE ist die grafische Benutzer- und Bedienerschnittstelle, die mit der verwendeten Automatisierungstechnik kommuniziert.2.
  2. Test Management Software (TMS)
    Diagnostiziert und analysiert elektronische Komponenten und eignet sich besonders für kleine und mittelgroße Systeme.
  3. Magpie
    ist eine weiterentwickelte Auswerte- und Datamining Applikation, um Reports und Trendanalysen anhand der ausgewählten Daten.
  4. OPC UA-Schnittstelle
    Sie ermöglicht eine standardisierte Anbindung aller Testsysteme an ein
      •  Prozessleitsystem (Leitlinienrechner)
      • Automatisierungs- und Handling-System sowie
      • SPS (speicherprogrammierbare Steuerung).

Selbstverständlich gibt es auch Testsysteme, die andere Fragestellungen haben, wie bei Batterie- oder Brennstoffzellentests, wo elektrochemische Prozesse und Impedanzmessungen im Mittelpunkt stehen. Mehr Informationen und Produkte dazu finden Sie in unseren Bereichen Elektrochemie und Batterie Messtechnik.

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